深圳市维度科技股份有限公司
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Dimension-Labs 扫描狭缝式光斑分析仪系列采用国内的刀口 / 狭缝双模式切换技术,覆盖 190-2700nm 宽光谱,可测 2.5μm-10mm 光束直径,0.1μm 超高分辨率突破传统检测极限。其创新设计实现三大优势: 双模式自适应检测 通过软件切换刀口 / 狭缝模式,分析 < 20μm 极小光斑形态或 10mm 大光斑能量分布,全量程无盲区。 高功率直接测量 狭缝物理衰减机制允许单次通过狭缝区域光,无需外置衰减片即可安全测量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狭缝扫描原理实现 0.1μm 分辨率,完整捕捉亚微米级光斑细节,避免能量分布特征丢失。 设备内置正交狭缝转动轮,通过旋转扫描同步采集 XY 轴功率数据,经算法处理输出光束直径、椭圆率等 20 + 参数。紧凑模块化设计适配多场景安装,通过 CE/FCC 认证,适用于激光加工、医疗设备及科研领域,助力客户提升光束质量检测精度与效率。近场光斑测试系统怎么搭建?维度光斑分析仪怎么样
维度光电光束质量测量解决方案基于两大技术平台: 扫描狭缝式系统:采用正交狭缝转动轮结构,通过 ±90° 旋转实现 XY 轴同步扫描,结合刀口 / 狭缝双模式切换,突破亚微米级光斑检测极限。光学系统集成高灵敏度光电探测器,配合高斯拟合算法,实现 0.1μm 分辨率与 ±0.8% 测量重复性。 相机式成像系统:搭载背照式 CMOS 传感器(量子效率 95%@500-1000nm),结合非球面透镜组消除畸变,支持皮秒级触发同步与全局快门技术,捕捉单脉冲光斑形态。算法通过二阶矩法计算 M² 因子,测量精度达 ±0.3%。 创新突破: 狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量 面阵传感器动态范围扩展技术支持 1μW-1W 宽功率检测 AI 缺陷诊断模型自动识别光斑异常(率 97.2%)脉冲激光光斑分析仪厂家光斑分析仪能测束腰位置吗?
维度光电聚焦激光领域应用,推出覆盖千瓦高功率、微米小光斑及脉冲激光的光束质量测量解决方案。全系产品包含扫描狭缝式与相机式两大技术平台:狭缝式通过正交狭缝转动轮实现 0.1μm 超高分辨率,可直接测量近 10W 激光,适用于半导体晶圆切割等亚微米级场景;相机式采用面阵传感器实时捕获光斑形态,支持皮秒级触发同步,分析脉冲激光能量分布。技术突破包括:基于 ISO 11146 标准的 M² 因子算法,实现光束发散角、束腰位置等 18 项参数测量;AI 缺陷诊断系统自动识别光斑异常,率达 97.2%。在工业实战中,狭缝式设备通过实时监测光斑椭圆率,帮助某汽车零部件厂商将激光切割合格率提升至 99.6%;科研场景下,相机式与 M² 模块组合成功解析飞秒激光传输特性,相关成果发表于《Nature Photonics》。针对不同需求,维度光电提供 "检测设备 + 自动化接口 + 云平台" 工业方案及 "全功能主机 + 定制模块" 科研方案,助力客户缩短周期 40% 以上。未来将多模态融合设备与手持式分析仪,推动激光测量技术智能化升级。
Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析仪,通过配套通用软件构建完整光束质量评估体系。该系统集成光斑能量分布测绘、发散角测量及 M² 因子计算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及准直效果。所有参数均符合 ISO11146 标准,包括光斑宽度、质心偏移量和椭圆率等指标。用户可选配 M² 测试模块,实现光束传播方向上的束腰定位、发散角测量及 M² 因子计算,终通过软件一键生成标准化测试报告。BeamHere把对于激光光束的评价进⾏量化,并由软件⼀键输出测试报告,精确且⾼效的完成光束分析。极小光斑测量的光斑分析仪。
维度光电 BeamHere 系列为激光光束质量检测提供高性价比解决方案: 扫描狭缝式:国内刀口 / 狭缝双模式切换,覆盖 190-2700nm 光谱,可测 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率实现亚微米级光斑分析。创新狭缝衰减机制支持 10W 级高功率直接测量,无需外置衰减片。 相机式:400-1700nm 宽谱响应,支持实时 2D/3D 成像与非高斯光束测量。六滤光片转轮设计扩展功率量程,可拆卸结构兼顾工业检测与科研成像需求。 M² 测试模块:通过 ISO 11146 标准算法,测量 M² 因子、发散角、束腰位置等参数,适配全系产品。 配套 BeamHere 软件提供直观操作界面,支持一键生成标准化报告,满足光通信、医疗、工业等多场景需求。系统以模块化设计实现高精度检测,助力客户提升效率与产品质量。M²因子测量模块,兼顾光斑与光束质量一站式测试。beam here光斑分析仪原理
高功率激光光束质量怎么测?维度光斑分析仪怎么样
Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像,可测大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑为 55μm(10 倍 5.5μm 像元),结合 6 片衰减片(BeamHere 标配)实现 1W 功率测量,适合大光斑、脉冲激光(触发模式同步捕获单脉冲)及非高斯光束(如贝塞尔光束)检测,通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描,刀口模式可测小 2.5μm 光斑,创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光,适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测,但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失,且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案,用户可根据光斑尺寸(亚微米选狭缝,大光斑选相机)、功率等级(高功率选狭缝,微瓦级选相机)及光斑类型(复杂形态选相机,高斯光斑选狭缝)灵活选择,实现光斑检测全场景覆盖。维度光斑分析仪怎么样